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Microscópio Raman confocal inVia™ InSpect

Nosso microscópio confocal Raman mais vendido, otimizado para uso em laboratórios forenses para análise de traços.

Adicione a espectroscopia Raman ao seu laboratório e você obterá mais recursos poderosos que complementam suas técnicas existentes. A análise é sem contato e não destrutiva e permite que você veja detalhes químicos finos usando um microscópio óptico de nível de pesquisa.

Identifique os materiais que podem ser difíceis ou demorados com outras técnicas, como pós cristalinos duros, fragmentos de cerâmica e lascas de vidro, facilmente analisados com pouca ou nenhuma preparação.

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Microscópio Raman inVia Inspect

Características

O microscópio inVia InSpect Raman oferece:

  • Identificação altamente específica - a microscopia Raman pode diferenciar estruturas químicas, mesmo aquelas intimamente relacionadas
  • Alta resolução espacial - comparável às suas outras técnicas de microscopia
  • Uma série de técnicas de contraste de microscópio - incluindo campo claro, campo escuro e contraste de polarização com iluminação de luz refletida e transmitida
  • Análise de partículas - use algoritmos avançados de reconhecimento de imagem e recursos de controle de instrumento para caracterizar as distribuições de partículas
  • Imagens correlativas - crie imagens compostas combinando dados Raman com imagens de outras técnicas de microscopia

Para informações mais detalhadas, baixe o folheto do inVia InSpect.

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Imagem Raman de uma pastilha de ecstasy

Empty Modelling™

O software Empty Modelling usa uma técnica de análise multivariada para resolver dados complexos em seus constituintes. Use-o com pesquisa de biblioteca para analisar dados de amostras que contêm materiais desconhecidos.

Objetiva do microscópio inVia Raman

Mapeamento StreamHR™

O mapeamento StreamHR harmoniza a operação do detector de alto desempenho dos microscópios InSpect e a mesa do microscópio MS30. Ele aumenta a velocidade da coleta de dados e economiza tempo na geração de imagens.

Microscópio Raman inVia InSpect

Automação plena

Você pode controlar o alinhamento, calibração e configurações por meio do software WiRE da Renishaw. Por exemplo, você pode alternar rapidamente – com o clique de um botão – entre a visualização da amostra e a análise Raman.

Aplicações

Coleta de amostra de evidência de resíduo de arma de fogo

Resíduo de arma de fogo

O microscópio inVia InSpect oferece um pacote abrangente para a análise de resíduos de arma de fogo, independentemente de sua origem, oferecendo benefícios para a detecção e identificação de resíduos orgânicos e inorgânicos. Nesta nota, exploramos algumas das principais características e benefícios da técnica Raman para análise GSR.

Baixe a nota de aplicação

Analisando tintas em falsificação de documentos

Falsificação de documentos

Existem muitos tipos diferentes de tintas; as cores podem ser iguais, mas quimicamente podem ser diferentes. A análise Raman com o microscópio Raman inVia permite testes rápidos e não destrutivos de áreas pesquisadas com a especificidade para distinguir tipos de tinta semelhantes que podem parecer visualmente idênticos.

Leia o artigo

Mantenha o foco em tempo
real com LiveTrack

O microscópio inVia InSpect utiliza a tecnologia de rastreamento automático de foco LiveTrack™ para adquirir espectros e topografia em tempo real, exatos e reproduzíveis de amostras com grandes variações de altura. Crie imagens 3D deslumbrantes de superfícies irregulares, curvas ou ásperas sem a necessidade de escaneamento preliminar. Assista ao vídeo para ver um exemplo.

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Downloads: microscópio inVia InSpect Raman

Especificações

Parâmetro

Valor
Faixa de comprimento de onda200 nm a 2200 nm
Lasers suportadosDe 229 nm a 1064 nm
Resolução espectral0,3 cm-1 (FWHM)
A mais alta normalmente necessária: 1 cm-1
Estabilidade< ±0.01 cm-1Variação na frequência central da banda de Si 520 cm-1 ajustada à curva, seguindo medições repetidas. Alcançada utilizando uma resolução espectral de 1 cm-1 ou mais alta
Corte baixo do número de onda5 cm-1O mais baixo normalmente necessário: 100 cm-1
Corte alto do número de onda30.000 cm-1Padrão: 4.000 cm-1
Resolução espacial (lateral)0,25 µmPadrão: 1 µm
Resolução espacial (axial)< 1 µmPadrão: < 2 µm. Depende da objetiva e do laser
Dimensões do detector (padrão)1024 × 256 pixelsOutras opções disponíveis
Temperatura operacional do detector-70 °C
Número de filtros Rayleigh suportadosIlimitadoAté quatro conjuntos de filtro em montagem automatizada. Número ilimitado de conjuntos de filtro adicionais suportados por suportes cinemáticos localizados com exatidão e comutáveis pelo usuário.
Número de lasers suportadosIlimitadoUm como padrão. Lasers adicionais acima de 4 requer a montagem sobre uma mesa óptica.
Controlado por Windows PCEspecificação Windows® PC mais recenteInclui estação de trabalho do PC, monitor, teclado e trackball
Tensão de alimentação110 V AC a 240 V AC +10% -15%
Frequência de alimentação50 Hz ou 60 Hz
Consumo normal de energia (espectrômetro)150 W
Profundidade (sistemas laser duplos)930 mmPlaca base laser dupla
Profundidade (sistemas laser triplos)1116 mmPlaca base laser tripla
Profundidade (compacta)610 mmAté três lasers (depende do tipo de laser)
Massa normal (excluindo lasers)90 kg