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Interface inLux™ MEV Raman

Uma solução universal para análise in situ MEV Raman

A inovadora interface inLux™ MEV Raman traz a funcionalidade Raman de alta qualidade para sua câmara MEV. Agora você pode coletar espectros Raman que podem produzir imagens em 2D e 3D enquanto simultaneamente cria imagens em MEV. A amostra permanece estática entre a imagem MEV e os modos de coleta de dados Raman, para que você possa confiar na co-localização precisa ao comparar imagens Raman e imagens MEV.

A interface inLux oferece uma ampla gama de recursos Raman. Você pode coletar espectros de pontos únicos, vários pontos ou gerar imagens Raman confocais 2D e 3D. A interface inLux vem totalmente equipada para todo esse trabalho como padrão, permitindo analisar áreas maiores que 0,5 mm em cada eixo. Ela possui controle de posição totalmente codificado, até 50 nm, garantindo imagens Raman precisas.

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Interface inLux MEV Raman

Principais benefícios

  • Rica em informações - Raman, fotoluminescência (PL) e análise de catodoluminescência espectral (CL) é realizada simultaneamente e co-localizada com imagens MEV.
  • Universal - A interface inLux pode ser montada em uma ampla variedade de MEVs de diferentes fabricantes, com diferentes tamanhos de câmara e sem nenhuma modificação do MEV.
  • Não invasiva - A sonda inLux pode ser totalmente retraída com um único clique. Isso garante que a sonda não interfira em outras funções ou fluxos de trabalho do MEV quando não estiver em uso.
  • Determinação da distribuição - As imagens confocais Raman podem ser produzidas como padrão, permitindo assim uma medição fácil da heterogeneidade da amostra.
  • Visualização da amostra - Imagens ópticas de grande área e montagem para visualizar sua amostra e direcionar áreas de interesse.
  • Configurável - Até dois comprimentos de onda laser diferentes, além de um módulo CL opcional.
  • Automatizada - Comutação de comprimentos de onda do laser com um clique para análise Raman de amostras difíceis.

Aplicações da interface inLux

Imagem MEV mostrando contaminação em um injetor de combustível

Identificando contaminantes

A espectroscopia Raman é uma técnica sem contato e não destrutiva que pode fornecer informações químicas altamente específicas, tornando-a ideal para identificar contaminantes. A espectroscopia Raman é particularmente poderosa para analisar carbono e contaminantes orgânicos que seriam difíceis de diferenciar usando análise elementar. Um MEV pode ser usado para localizar e estudar a morfologia de pequenas partículas contaminantes que não podem ser resolvidas por microscopia óptica. Em seguida, essas partículas podem ser direcionadas diretamente para análise Raman usando a interface inLux, sem precisar mover a amostra.

Mais informações em contaminantes

Imagem sobreposta do MEV Raman do cartão de identificação

Análise de materiais

Muitas das novas propriedades exibidas pelos materiais surgem de seu tamanho, forma ou espessura. Grafeno, nanobastões e nanotubos são exemplos de onde a grande ampliação da microscopia eletrônica de varredura é vital para a visualização da amostra. Além de revelar a natureza química e estrutural do material, a análise Raman também pode fornecer informações sobre propriedades físicas. A interface inLux pode produzir imagens Raman que ilustram cristalinidade, tensão e propriedades eletrônicas que podem ser correlacionadas com as do MEV.

Mais informações em materiais

Conexão com diferentes sistemas Renishaw Raman

A interface inLux é usada em conjunto com os espectrômetros e software Raman de pesquisa da Renishaw. Ela fornece recursos abrangentes de processamento e análise, sendo intuitivamente simples de usar. Da identificação de contaminação industrial à pesquisa acadêmica; a interface inLux pode ajudá-lo a obter o máximo do seu MEV.

Analisador Raman Virsa

Analisador Virsa™ Raman

Para análise Raman dedicada, a interface inLux pode ser conectada ao analisador Virsa Raman. O analisador Virsa oferece uma solução compacta e econômica para análise em SEM Raman, com a alta sensibilidade e resolução espectral esperada de um sistema Raman de pesquisa em um corpo montado em magazine.

Saiba mais sobre o analisador Virsa
Microscópio Raman Qontor inVia

Microscópio Raman confocal inVia™

Conecte a interface inLux ao microscópio confocal Raman inVia para adicionar análise em MEV ao microscópio Raman de pesquisa mais vendido do mundo. O microscópio inVia oferece desempenho e sensibilidade líderes mundiais em uma faixa configurável de comprimentos de onda laser, detectores e grades. É ideal para analisar qualquer material ativo Raman. O microscópio inVia pode ser usado de forma independente para análise Raman. Seu MEV pode então estar disponível para outros usuários quando as medições in situ não forem necessárias.

Saiba mais sobre o microscópio inVia Raman

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Downloads: Interface inLux MEV Raman

Especificações

ParâmetrosValor
Massa< 20 kg
Comprimento do cabo de fibra óptica4,6 m
Espectrômetros Raman compatíveisMicroscópio confocal Raman Renishaw inVia, analisador Renishaw Virsa
Modelos MEV compatíveisCompatível com modelos de todos os principais fornecedores de MEV
Requisito da porta MEVRequer porta lateral ou traseira MEV livre
Desempenho MEVA interface inLux não requer nenhuma modificação do MEV e pode ser totalmente retraída quando não estiver em uso, para não interferir no desempenho do MEV ou de outros acessórios
Controle de movimentosTrackpad, software WiRE
Proteção do contatoSensor de toque, espaço de trabalho seguro monitorado usando encoders absolutos
Segurança laserLaser intertravado ao vácuo da câmara
Mapeamento/Imagens RamanFornecido como padrão
Seleção do módulo de fibra ópticaAté dois comprimentos de onda laser diferentes + módulo de catodoluminescência opcional
Comprimentos de onda laser disponíveis405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (outros disponíveis mediante solicitação)
Comutação laserAutomático, motorizado e controlado por software
Resolução espacial lateral< 1 µm @ 532 nm
Desempenho confocal< 6 µm @ 532 nm
Resolução espectralVeja especificações do espectrômetro
DimensõesL 804 mm x A 257 mm x D 215 mm