Microscópio Raman confocal inVia™
O mais recente microscópio confocal Raman de nível de pesquisa oferece excelente desempenho e os melhores dados no menor tempo possível.
Ele é simples de operar, tem desempenho excelente e proporciona resultados confiáveis, mesmo nos experimentos mais desafiadores. Você pode produzir imagens químicas ricas e detalhadas, com dados altamente específicos de pontos discretos. Com flexibilidade inigualável, os cientistas e engenheiros de todo o mundo confiam no inVia.
Características
O inVia consiste de um microscópio de pesquisa acoplado a um espectrômetro Raman de alto desempenho. Ele é simples de operar e oferece excelente desempenho, elevado rendimento de sinal, combinados com alta resolução espectral e estabilidade, proporcionando resultados confiáveis mesmo nas medições mais desafiantes.
O projeto óptico altamente eficiente do microscópio inVia proporciona os melhores dados Raman, mesmo a partir de poucos traços de material. Se você precisa produzir imagens químicas detalhadas e dados muito específicos de pontos discretos de modo fácil e confiável, então o microscópio inVia é o sistema ideal para você.
Para obter informações mais detalhadas, baixe o folheto do microscópio inVia.
Velocidade e sensibilidade
A alta sensibilidade permite que você observe sinais Raman fracos e analise rapidamente até mesmo traços de material, monocamadas e dispersões fracas. Ela consiste de sistema óptico estigmático no eixo que proporciona alta eficiência óptica, excelente rejeição de luz dispersa e sensibilidade incomparável.
Alta resolução espacial
O projeto óptico permite atingir um nível muito alto de confocalidade (a capacidade de rejeitar o sinal de regiões distantes do ponto de interesse). Isso assegura que você obtenha alta estabilidade e a mais alta resolução espacial possível, limitada apenas pelo limite de difração inerente da luz.
Elevado desempenho espectral
Ele pode resolver características espectrais mais estreitas do que 0,5 cm-1, para que você possa distinguir entre bandas Raman próximas e diferenciar materiais muito similares, tais como polimorfos farmacêuticos. A alta estabilidade permite monitorar pequenos desvios na posição da banda Raman (tão reduzidos quanto 0,02 cm-1).
Estabilidade excepcional
Uma placa base tipo colmeia com projeto personalizado mantém o microscópio e os lasers inVia em posição e é tão estável que normalmente não é necessária uma mesa óptica ou antivibração. Os principais componentes móveis são equipados com codificadores de alta precisão Renishaw, que garantem que tudo seja posicionado corretamente.
Flexibilidade espectral
Você pode configurar o microscópio inVia para que se torne ideal na análise das suas amostras específicas. Ele oferece suporte a vários lasers com comutação automatizada controlada por computador. Você pode alterar o comprimento de onda de excitação rapidamente e determinar rapidamente as melhores configurações para obter dados confiáveis de todas as suas amostras.
Flexibilidade de amostragem
O InVia suporta microscópios de pesquisa na vertical, invertidos e de estrutura aberta, bem como sondas de fibra óptica para análise remota de longa distância. Ele é compatível com uma variedade de objetivas e células ambientais, permitindo que você analise suas amostras em várias condições ambientais.
Aplicações
Investigando produtos farmacêuticos
Com muitos componentes e propriedades, é altamente desejável determinar a composição, o tamanho do domínio e a distribuição das formulações disponíveis comercialmente com patente expirada. O microscópio inVia oferece incrível especificidade e sensibilidade química, gerando imagens químicas detalhadas em uma ampla gama de formulações.
Estudando polímeros
O microscópio inVia Raman fornece especificidade e sensibilidade química, de modo não destrutivo, sem a necessidade de manipulação e preparação da amostra. Isso é importante no estudo de polímeros, pois buscamos novos materiais, melhoramos a eficácia dos materiais existentes e reduzimos os custos dos produtos.
Mantenha o foco em tempo
real com LiveTrack
O microscópio inVia utiliza a tecnologia de rastreamento automático de foco LiveTrack™ para adquirir espectros e topografia em tempo real, exatos e reproduzíveis de amostras com grandes variações de altura. Crie imagens 3D deslumbrantes de superfícies irregulares, curvas ou ásperas sem a necessidade de escaneamento preliminar. Assista ao vídeo para ver um exemplo.
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Downloads: microscópio Raman InVia
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Folheto: Microscópio confocal Raman InVia
Renishaw inVia: o microscópio Raman de alto desempenho mais vendido no mundo
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Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
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Product note: inVia Qontor confocal Raman microscope [en]
The inVia™ Qontor® confocal Raman microscope is a flexible research-grade instrument with unique real-time focus tracking capabilities.
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Technical note: Polarised Raman spectroscopy using the inVia Raman microscope [en]
This note demonstrates that the inVia confocal Raman microscope is an ideal tool for polarisation studies.
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Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
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Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
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Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
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Product note: Rayleigh imaging using the inVia™ confocal Raman microscope [en]
Product note detailing how you can perform Rayleigh imaging on the inVia confocal Raman microscope.
Especificações
O microscópio InVia está disponível em três modelos; do sistema inVia Qontor - o carro-chefe com automação plena e tecnologia de rastreamento de foco - até o sistema de nível básico inVia Basis.Parâmetro | Valor | |
| Faixa de comprimento de onda | 200 nm a 2200 nm | |
| Lasers suportados | De 229 nm a 1064 nm | |
| Resolução espectral | 0,3 cm-1 (FWHM) | A mais alta normalmente necessária: 1 cm-1 |
| Estabilidade | < ±0.01 cm-1 | Variação na frequência central da banda de Si 520 cm-1 ajustada à curva, seguindo medições repetidas. Alcançada utilizando uma resolução espectral de 1 cm-1 ou mais alta |
| Corte baixo do número de onda | 5 cm-1 | O mais baixo normalmente necessário: 100 cm-1 |
| Corte alto do número de onda | 30.000 cm-1 | Padrão: 4.000 cm-1 |
| Resolução espacial (lateral) | 0,25 µm | Padrão: 1 µm |
| Resolução espacial (axial) | < 1 µm | Padrão: < 2 µm. Depende da objetiva e do laser |
| Dimensões do detector (padrão) | 1024 × 256 pixels | Outras opções disponíveis |
| Temperatura operacional do detector | -70 °C | |
| Número de filtros Rayleigh suportados | Ilimitado | Até quatro conjuntos de filtro em montagem automatizada. Número ilimitado de conjuntos de filtro adicionais suportados por suportes cinemáticos localizados com exatidão e comutáveis pelo usuário. |
| Número de lasers suportados | Ilimitado | Um como padrão. Lasers adicionais acima de 4 requer a montagem sobre uma mesa óptica. |
| Controlado por Windows PC | Especificação Windows® PC mais recente | Inclui estação de trabalho do PC, monitor, teclado e trackball |
| Tensão de alimentação | 110 V AC a 240 V AC +10% -15% | |
| Frequência de alimentação | 50 Hz ou 60 Hz | |
| Consumo normal de energia (espectrômetro) | 150 W | |
| Profundidade (sistemas laser duplos) | 930 mm | Placa base laser dupla |
| Profundidade (sistemas laser triplos) | 1116 mm | Placa base laser tripla |
| Profundidade (compacta) | 610 mm | Até três lasers (depende do tipo de laser) |
| Massa normal (excluindo lasers) | 90 kg |
Visualização de amostras | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Visualização estéreo (com binocular) | ■ | ▲ | ▲ |
| Visualização memorizada e automática de pós-coleta | - | ▲ | ▲ |
| Software de controle do microscópio | - | ▲ | ▲ |
| Luz branca automática/Comutação Raman | - | ▲ | ▲ |
| Salvamento automático de luz branca com dados | - | ▲ | ▲ |
| Visualização combinada de luz branca e vídeo laser | - | ▲ | ▲ |
| Autofoco de luz branca (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Coleta de dados Raman | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Enfileiramento automático de medição | ▲ | ▲ | ▲ |
| Rastreamento automático do foco (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Verificação de alinhamento e desempenho | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Fonte de calibração interna com comprimento de ondo do neon | - | ▲ | ▲ |
| Padrões de referência interna para autocalibração | - | ▲ | ▲ |
| Correção automática de calibração Raman (calibração rápida) | ▲ | ▲ | ▲ |
| Autoalinhamento laser | ▲ | ▲ | ▲ |
| Autoalinhamento do sinal Raman | ▲ | ▲ | ▲ |
| Verificação da condição de desempenho | - | ▲ | ▲ |
Chave
| - não disponível | ■ opcional | ▲ incluído |