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Tecnologia de 5 eixos

Uma revolução na metrologia

Diferente dos métodos de medição com MMC convencionais, a tecnologia de 5 eixos da Renishaw utiliza o movimento sincronizado da MMC e dos eixos do cabeçote para minimizar os erros dinâmicos da máquina em velocidades muito altas.

O que é medição em 5 eixos?

Baseada em avançada tecnologia de cabeçote, sensor e controle, a tecnologia de medição em 5 eixos da Renishaw proporciona velocidade e flexibilidade de medição sem precedentes, evitando ao mesmo tempo o compromisso entre velocidade e exatidão inerente às técnicas convencionais. Ela aumenta a produtividade de medição, minimiza os tempos secundários e proporciona aos fabricantes uma melhor compreensão da qualidade dos seus produtos.

Diferente dos sistemas baseados em cabeçotes indexáveis ou apalpadores fixos, o movimento em 5 eixos permite que a ponta acompanhe a trajetória contínua ao redor de peças complexas sem ter que deixar a superfície para trocar pontas ou indexar o cabeçote. Os algoritmos do comando que sincronizam os movimentos da CMM e do cabeçote criam uma trajetória ideal da ponta e minimizam os erros dinâmicos da CMM.

Emblema da tecnologia de medição em 5 eixos

Tecnologia de medição em 5 eixos

Nos métodos convencionais de medição, todos os movimentos necessários para adquirir os dados da superfície são efetuados pela CMM. A aceleração provoca deflexões inerciais na estrutura da máquina, as quais por sua vez induzem a erros de medição.

Os fabricantes de sistemas de metrologia devotaram anos para desenvolver técnicas para reduzir estes erros dinâmicos, porém existe um limite superior de velocidade imposto pela rigidez da máquina e do servomecanismo, além do qual a medição não pode ser realizada de modo confiável.

A tecnologia de medição em 5 eixos rompe este limite ao utilizar um cabeçote articulado que se move em dois eixos rotativos durante a medição. Isto permite que a CMM execute bem o que foi projetado - mover-se com velocidade constante em um único vetor enquanto mede. Como o cabeçote é muito mais leve e dinâmico do que a CMM, com resposta de freqüência significativamente melhor, é capaz de acompanhar rapidamente as mudanças na geometria da peça sem introduzir erros dinâmicos prejudiciais, resultando em velocidades superficiais muito mais altas e, por conseguinte, ciclos de medição mais curtos.

Sistemas de medição em 5 eixos